Shitov S.V., Chichkov V.I., Merenkov А.V.
Ключевые слова: films, critical temperature, thickness dependence, resistance, temperature dependence, resistive transition, numerical analysis, experimental results, measurement technique
Measurement Techniques, 2020, v.62, N 11, p.973-979
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.